產品介紹：
密集吸收材料的吸收光譜，因為激烈的吸收和菲涅爾反射變得幾乎不可能。在這種情況下，檢測吸收材料是適宜的方法是抑制全內反射。這個方法是基于<減少（間于高折射率n0介質與在入射角度超過臨界角(Θc=arcsin(n/n0))的低折射系數n的吸收介質）之間的界面輻射的反射系數>的影響. 反射系數值取決于輻射的入射角度，輻射偏振態(tài)以及樣品的折射率. 正確選擇棱鏡(特別是棱鏡的底角)可取的好的ATR光譜,抑制THz頻譜內全內反射的方法,可以滿足檢測物質的吸收系數從102-104/cm。
產品參數：
材質 | HRFZ-Si |
尺寸公差 mm | + /-0.2 |
角度公差 arc min | +/-30 |
拋光表面的表面質量scr/dig | 80/50 |
磨光面的表面質量 Ra | 2.5 |
表面精度, mm | ±0.01（與理想平面的偏差） |
注：如需詳細規(guī)格參數資料，或有其他要求，請聯系我們。
